本导图以红外吸收技术为核心,详细阐述了半导体中杂质和缺陷的检测原理、类型、分析方法及相关技术,为读者提供了一个清晰的知识框架。
本文中的思维导图是由图形天下思维导图软件制作而成,点击上面思维导图图片可以直接打开图形天下思维导图软件,能够对“半导体中杂质和缺陷的红外吸收”思维导图进行美化调整。
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